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摘要:
为了详细地了解纳米MOS电路中单粒子瞬变电荷收集机理,利用ISETCAD软件仿真二维模拟0.18 μm NMOS的单粒子瞬态脉冲.通过进行三种不同的电路连接方式和不同的粒子注入位置的仿真,得到了一系列单粒子瞬态电流脉冲(SET)与时间的关系曲线.分析了不同电路连接方式和注入位置对SET的峰值和脉宽的影响.为下一步建立SET的精确模型进行SET效应的模拟做基础的研究.
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内容分析
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文献信息
篇名 0.18μm NMOS的重离子单粒子瞬态脉冲的仿真模拟
来源期刊 电子器件 学科 工学
关键词 ISE仿真 NMOS 单粒子瞬态脉冲 单粒子注入位置
年,卷(期) 2011,(5) 所属期刊栏目 电子电路设计分析及应用
研究方向 页码范围 558-561
页数 分类号 TM935.4
字数 2200字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-9490.2011.05.019
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 安海华 2 6 1.0 2.0
2 李飞 2 6 1.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
ISE仿真
NMOS
单粒子瞬态脉冲
单粒子注入位置
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子器件
双月刊
1005-9490
32-1416/TN
大16开
南京市四牌楼2号
1978
chi
出版文献量(篇)
5460
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21
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27643
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