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摘要:
针对传统比例-积分-微分(PID)控制器参数整定困难的问题,提出一种新型比例-积分(PI)参数自动寻优控制器(SPO).先确定PI参数的取值范围,按一定取值间距建立PI参数的查找表;针对反馈跟踪控制的3个性能指标,包括上升时间、超调量和稳态误差,分别根据查找表的参数进行轮询式测试,建立3个独立的性能评价数据库;根据满意度函数映射和自动规则产生算法,将3个评价数据库分别用函数表示;为了综合考虑3个性能指标,使系统控制的整体性能达到最佳,引入了价格函数;最后通过基于层截面颗粒度分析的图形算法,寻找出最优的PI参数.在原子力显微镜(AFM)上的实验证明,本控制器能自动寻找出适合当前系统状态的最优PI参数,可避免由于人为经验因素对扫描成像造成的影响,从而取得更好的扫描图像.
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文献信息
篇名 PI参数自动寻优控制器设计
来源期刊 纳米技术与精密工程 学科 工学
关键词 比例积分 参数寻优 优化算法 原子力显微镜 控制器
年,卷(期) 2011,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 58-64
页数 分类号 TH742|TN16
字数 4386字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-6030.2011.01.012
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 殷伯华 中国科学院电工研究所 24 94 6.0 8.0
2 韩立 中国科学院电工研究所 98 376 9.0 13.0
3 李敏 中国科学院自动化研究所 82 726 15.0 24.0
4 林云生 中国科学院电工研究所 21 148 8.0 11.0
5 陈代谢 12 55 4.0 7.0
传播情况
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研究主题发展历程
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控制器
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12-1458/03
天津市南开区卫津路92号
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