塑封器件中高聚物的失效分析

• 作者: 杨洁 郝秀云
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 塑封器件 失效分析 损伤机理
• 年，卷（期）: 2011,（5）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 10-12
• 分类号: TN305.94
• 字数: 2587字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2011.05.003

摘要

文章分析了塑封器件中高聚物在封装固化过程中和使用过程中常见的损伤或失效,结果表明:封装固化过程中,当高聚物材料收缩受到周围材料的约束时,由于残余应力的存在,可引起气孔、孔隙、微裂纹,即形成了一系列微小缺陷;在后续的生产工艺以及产品使用过程中的热-机械载荷作用下,固化中产生的微小缺陷或损伤会扩展、汇合而形成宏观裂纹,导致气孔受潮、水汽膨胀,最终引起器件的失效.分析还表明:在保证基体强度的条件下,设计界面强度较高、粒径分散度较低、平均粒径较小的微粒填充高聚物复合材料有利于改善高聚物的性能,降低其失效机率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郝秀云	南京信息职业技术学院机电学院	15	20	3.0	3.0
2	杨洁	南京信息职业技术学院机电学院	16	37	4.0	5.0