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摘要:
采用直流磁控溅射在SiO2/n-Si(111)衬底上沉积了Al薄膜,经过光刻、刻蚀形成源漏极,再采用射频磁控溅射沉积ZnO薄膜作为有源层,成功制备了底栅顶接触结构的ZnO-TFT,Al膜厚135nm,ZnO膜厚110nm.实验结果表明,薄膜晶体管展示出明显的栅控特性以及饱和特性,ZnO薄膜沿C轴择优取向生长,且在可见光波长区域的平均透过率超过85%.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 磁控溅射ZnO基TFT的研究
来源期刊 电子器件 学科 工学
关键词 ZnO-TFT 输出特性 磁控溅射 透过率
年,卷(期) 2011,(6) 所属期刊栏目 固态电子器件及材料
研究方向 页码范围 615-617
页数 分类号 TN321.5|TN386.3
字数 1281字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-9490.2011.06.003
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 祁康成 电子科技大学光电信息学院 65 340 10.0 14.0
2 林祖伦 电子科技大学光电信息学院 76 442 10.0 15.0
3 叶宗标 电子科技大学光电信息学院 3 6 2.0 2.0
4 沈匿 电子科技大学光电信息学院 3 16 3.0 3.0
5 杨隆杰 电子科技大学光电信息学院 2 7 2.0 2.0
6 王祝娇 电子科技大学光电信息学院 1 3 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
ZnO-TFT
输出特性
磁控溅射
透过率
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
电子器件
双月刊
1005-9490
32-1416/TN
大16开
南京市四牌楼2号
1978
chi
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