射频溅射功率密度对Ga:ZnO透明导电薄膜性能的影响

• 作者: 李远洁 李金逵 胡晓芬
• 来源期刊: 西安交通大学学报
• 关键词: 透明导电薄膜 氧化锌 Urbach带尾 磁控溅射
• 年，卷（期）: 2010,（8）
• 页码范围: 58-62
• 分类号: TN304.2
• 语种: 中文

摘要

室温下利用射频磁控溅射法在石英玻璃衬底上制备了掺Ga氧化锌(Ca:ZnO)多晶透明导电薄膜.通过改变磁控溅射生长过程中的溅射功率密度和靶基距,研究了多晶薄膜的透明导电性能与生长参数的相互影响关系.研究结果表明:当溅射时间相同时,随溅射功率密度的增加和靶基距的减小,Ga:ZnO薄膜的厚度增加,从而导致了薄膜导电率升高;当溅射功率密度为5.3W/cm2、靶基距为5cm时,Ga:ZnO薄膜的最小电阻率达到3.1×10-4Ω·cm.透光率测试结果表明:当溅射功率密度增加时,Ga:ZnO薄膜中紫外光学吸收发生了红移;增加溅射功率密度会造成薄膜中掺杂缺陷密度增加,产生禁带之间Urbach带尾能级吸收效应;GaZnO薄膜在可见光范围中的平均透光率大于80%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李远洁	西安交通大学电子物理与器件教育部重点实验室	5	11	2.0	3.0
2	胡晓芬	西安交通大学电子物理与器件教育部重点实验室	3	13	2.0	3.0
3	李金逵	西安交通大学电子物理与器件教育部重点实验室	1	4	1.0	1.0