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摘要:
采用脉冲激光沉积法在SnO2:F( FTO)衬底上制备了非晶Pr0.7Sr0.3MnO3(PSMO)薄膜,并对具有Au/非晶PSMO/FTO三明治结构的器件进行了阻变特性测试.结果显示:在低电压范围扫描时,非晶PSMO薄膜的电流-电压(I-V)回线只在负电压区域呈现;随着电压的增加,薄膜的I-V回线出现在整个电压范围内,并在“0V”和“-1 V”左右交叉了两次.分析表明:Poole-Frenkel (P-F)和Ohmic输运机制对非晶PSMO薄膜中的电荷输运起决定作用,包含高密度缺陷的界面态对栽流子的俘获与去俘获导致了非晶PSMO薄膜的I-V特性.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 非晶Pr0.7Sr0.3MnO3薄膜的电阻开关性质
来源期刊 电子元件与材料 学科 物理学
关键词 非易失性存储 脉冲激光沉积法(PLD),I-V特性 界面缺陷
年,卷(期) 2011,(8) 所属期刊栏目 研究与试制
研究方向 页码范围 31-34,39
页数 分类号 O472+.4
字数 1972字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-2028.2011.08.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张伟风 河南大学物理与电子学院光伏材料省重点实验室 66 248 8.0 10.0
2 张婷 河南大学物理与电子学院光伏材料省重点实验室 29 59 4.0 6.0
3 丁玲红 河南大学物理与电子学院光伏材料省重点实验室 21 95 6.0 8.0
4 刘晓娜 河南大学物理与电子学院光伏材料省重点实验室 2 3 1.0 1.0
5 孙新格 河南大学物理与电子学院光伏材料省重点实验室 2 3 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
非易失性存储
脉冲激光沉积法(PLD),I-V特性
界面缺陷
研究起点
研究来源
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电子元件与材料
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51-1241/TN
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成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
62-36
1982
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