非同轴微波器件测试夹具的设计与应用

• 作者: 雷静
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 非同轴微波器件 测试 夹具 去嵌入技术
• 年，卷（期）: 2011,（7）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 60-63
• 分类号: TN63
• 字数: 1482字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2011.07.016

摘要

由于非同轴微波器件接口的特殊性，无法直接与同轴接口的矢量网络分析仪相连进行测试，非同轴器件的微波性能测试面临较大的困难，目前，国内非同轴器件的测试技术已严重滞后其设计开发工作。对非同轴微波器件接口进行了深入研究，设计了针对非同轴微波器件测试的分体式夹具，解决了去嵌入技术问题，并以实例验证了该测试装置的正确性。大量测试表明，该夹具测试传输准确度优于0.2dB。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	雷静		3	22	1.0	3.0