软X射线技术对核桃内部品质的无损检测研究

• 作者: 吕强 张庆磊 黄星奕
• 来源期刊: 食品工业科技
• 学科: 工学
• 关键词: 核桃 软X射线 图像处理
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 页码范围: 344-346
• 分类号: TS201.1
• 语种: 中文

摘要

针对传统方法对核桃内部品质检测的破坏性问题,尝试利用软X射线技术进行核桃内部品质的无损检测.首先采用软X射线技术获取核桃图像,对图像进行去噪和分割;而后提取核桃的轮廓特征,采用面积阈值法对核桃的正常果、空壳果、破损果进行判别区分.实验结果表明,各类核桃总体识别正确率达88.9%,为核桃内部品质无损检测提供了可行的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄星奕	江苏大学食品与生物工程学院	67	1055	21.0	30.0
2	吕强	江苏大学食品与生物工程学院	11	307	9.0	11.0
3	张庆磊	江苏大学食品与生物工程学院	1	8	1.0	1.0