基于IEEE 1500并行测试技术的研究

• 作者: 柴华 江志强 邓洪高 颜学龙
• 来源期刊: 桂林电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 并行测试 串行测试 IP核
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 页码范围: 204-207
• 分类号: TP206
• 字数: 2948字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-808X.2012.03.008

摘要

针对现代IP核测试需要更高的测试效率,提出一种基于1500标准的并行测试方法.通过对1500中的边界寄存器与指令寄存器的重新设计,使它支持标准中强制规定的串行测试和用户可自定义的并行测试.在以74LS245外壳设计为例,通过Quartus Ⅱ软件进行串并行的外测试仿真以及PSpice软件进行串并行内测试仿真,其结果表明,并行接口测试比串行接口测试提高数倍的效率,而且选择的测试方案较多,用户可以选择较优的测试方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜学龙	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	89	330	9.0	12.0
2	柴华	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	4	9	2.0	2.0
3	江志强	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	5	13	2.0	3.0
4	邓洪高	桂林电子科技大学信息与通信学院	20	85	5.0	8.0