基于DWL概念的嵌入式存储器内建自修复方法

• 作者: 刘勇锋 姚竹亭 王洁 秦新红 顾秀江
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: 嵌入式存储器 内建自修复 内建自测试
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 设计与研发
• 页码范围: 13-18
• 分类号: TP391.67
• 字数: 5105字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2012.01.004

摘要

嵌入式存储器在SoC技术中逐渐成为主体设计结构,由于存储器存在成品率的问题,所以在存储器中设计了内建自测试和内建自修复的策略来解决,其中主要是：基于冗余行的修复策略、基于冗余列的修复策略和基于冗余字的修复策略,然而,在存储器中采用一维冗余块修复策略需要增加更多的冗余块,如果采用二维冗余块修复虽然提高了修复率,但是使得其稳定性和可靠性降低了,为此改进了一种基于DWL修复概念的策略,使其不仅保持了DWL结构的低功耗、提高了冗余资源的利用率,而且快速访问的特性,从而提高了存储器的故障修复率。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姚竹亭	中北大学机械工程与自动化学院	88	363	9.0	15.0
2	顾秀江	中北大学机械工程与自动化学院	6	25	3.0	5.0
3	刘勇锋	中北大学机械工程与自动化学院	4	9	1.0	3.0
4	秦新红	中北大学机械工程与自动化学院	4	14	2.0	3.0
5	王洁	中北大学机械工程与自动化学院	2	8	1.0	2.0