辐射效应对SRAM型FPGA可靠性的影响分析

• 作者: 刘鸿瑾 吕倩 朱辉 胡冰
• 来源期刊: 质量与可靠性
• 学科: 航空航天
• 关键词: FPGA 空间辐射 故障模式 可靠性
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 可靠性技术
• 页码范围: 4-6
• 页数: 3页
• 分类号: V476.5
• 字数: 3422字
• 语种: 中文

摘要

分析了空间辐射环境对SRAM型FPGA可靠性的影响,总结归纳了空间应用SRAM型FPGA的故障模式,供FPGA产品设计人员参考。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱辉		4	32	3.0	4.0
2	刘鸿瑾		13	72	5.0	8.0
3	胡冰		2	6	1.0	2.0
4	吕倩		2	6	1.0	2.0