HgCdTe薄膜材料组分分布对器件响应光谱的影响

• 作者: 孙权志 崔宝双 杨建荣 魏彦锋
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 学科: 工学
• 关键词: HgCdTe红外探测器 纵向组分分布 响应光谱 光传输模型
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 页码范围: 225-230
• 页数: 6页
• 分类号: TN214
• 字数: 4730字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1010.2013.00225

摘要

研究了HgCdTe液相外延薄膜的纵向组分分布对探测器响应光谱的影响.提出了一种计算HgCdTe红外探测器响应光谱的模型,模型中综合考虑了薄膜的实际组分分布以及光在器件各层结构中的相干、非相干传输.计算结果表明,在探测器的光吸收区,HgCdTe液相外延薄膜的组分梯度及其产生的内建电场可以显著地提高器件的响应率.通过与实验数据进行比较,验证了模型的适用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏彦锋	中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室	22	117	6.0	9.0
2	杨建荣	中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室	38	175	7.0	11.0
3	崔宝双	中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室	3	15	3.0	3.0
4	孙权志	中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室	3	8	2.0	2.0