基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
近年来,Si基ZnO∶ Al透明导电薄膜界面处Si的渗透对薄膜性能的影响引起了人们的关注.本文采用射频磁控溅射法,在石英和Si衬底上沉积了不同厚度的Al、Si弱掺杂(1 wt.%)的ZnO薄膜(AZO∶ Si),系统研究了膜厚(等价于Si的渗透深度)对薄膜电学、光学性质的影响.结果显示,膜厚在几十nm时,薄膜的电阻率、载流子浓度和迁移率都强烈地依赖于膜厚,在膜厚为19nm时,载流子浓度和迁移率接近最小,电阻率较大,且呈现p型导电特性.随着膜厚增加,载流子浓度和迁移率都变大,电阻率减小并趋于稳定,膜厚在396nm附近时电阻率最小是7× 10-3Ω ·cm,此时的载流子浓度和迁移率分别是1.54×1020cm-3和5.66 cm2V-1s-1.膜厚达300nm以上时,Si的影响已可忽略.结合薄膜的X射线衍射(XRD)图谱、X射线光电子能谱(XPS)和紫外—可见光(UV-Vis)透射光谱探讨了膜厚(Si的渗透深度或过渡层厚度)对薄膜性能的影响及其相关机制.
推荐文章
膜厚对FePt薄膜择优取向生长和磁性能的影响
FePt薄膜
相转变
择优取向
磁性能
有机玻璃基底AZO/Ag/AZO复合薄膜的制备与性能
PMMA
AZO/Ag/AZO
层合
耐湿热性
电加温
溶胶组分对AZO薄膜晶体结构的影响
溶胶-凝胶
AZO薄膜
溶剂
稳定剂
晶体结构
缓冲层对AZO薄膜光电性能的影响
AZO薄膜
外延技术
缓冲层
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 膜厚对AZO∶Si薄膜性能的影响
来源期刊 材料科学与工程学报 学科 物理学
关键词 AZO∶Si 磁控溅射 膜厚 电光性质
年,卷(期) 2013,(4) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 529-534,597
页数 分类号 O484
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 江美福 苏州大学物理科学与技术学院 17 144 7.0 11.0
2 周杨 苏州大学物理科学与技术学院 8 23 3.0 4.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (44)
共引文献  (18)
参考文献  (23)
节点文献
引证文献  (1)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1980(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1986(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
1990(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
1994(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1996(4)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(3)
1997(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
1998(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
1999(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
2000(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
2001(6)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(5)
2002(6)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(5)
2003(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
2004(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2005(6)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(4)
2006(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
2007(4)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(4)
2008(5)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(5)
2009(11)
  • 参考文献(4)
  • 二级参考文献(7)
2010(3)
  • 参考文献(3)
  • 二级参考文献(0)
2011(3)
  • 参考文献(3)
  • 二级参考文献(0)
2012(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2013(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2013(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
AZO∶Si
磁控溅射
膜厚
电光性质
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
材料科学与工程学报
双月刊
1673-2812
33-1307/T
大16开
浙江杭州浙大路38号浙江大学材料系
1983
chi
出版文献量(篇)
4378
总下载数(次)
9
总被引数(次)
42484
论文1v1指导