on-Chip SRAM内建自测试及其算法的研究

• 作者: 刘有耀 李彬
• 来源期刊: 数字通信
• 学科: 工学
• 关键词: 片上静态随机存储器 内建自测试 故障模型 测试算法
• 年，卷（期）: 2014,（4）
• 页码范围: 14-18
• 页数: 5页
• 分类号: TN407

摘要

具体研究on-Chip SRAM的内建自测试及其算法.在引入嵌入式存储器内建自测试的基础上,详细分析on-Chip SRAM内建自测试的具体实现方法,反映出内建自测试对于简化测试程序和缩短测试时间,从而降低测试成本的重要性.详细描述在测试on-Chip SRAM时常用的算法,并具体分析非传统性测试算法——Hammer算法和Retention算法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘有耀		36	164	6.0	12.0
2	李彬		3	8	2.0	2.0