集成电路测试管理系统开发与利用

• 作者: 张奇
• 来源期刊: 电子世界
• 关键词: 集成电路 测试管理系统 开发 利用
• 年，卷（期）: 2014,（14）
• 所属期刊栏目: 电子技术
• 页码范围: 32-33
• 页数: 2页
• 字数: 4361字
• 语种: 中文

摘要

伴随着科学技术的不断进步，半导体技术得到了全面发展。目前，基于半导体器件消耗量逐渐的形势下，伴随着生产规模的日益扩大，全球化市场竞争越来越激烈，诸多半导体企业以节约成本、整合企业资源、优化企业管理为目标，进行综合系统开发应用，已成为增强其市场竞争力的关键手段。集成电路产品测试管理模块属于生产管理系统的核心部分，能整合企业生产过程，保证其连贯性，预防生产脱节，确保效率。基于半导体行业大批量、多品种生产形势下，对集成电路测试要求越来越高，测试工序质量检测变化快、参数多，如何满足不同品种产品、客户所要求的质量检测要求，已成为了集成电路测试运行管理中刻不容缓的问题。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张奇		3	5	2.0	2.0