苹果质地的近红外光谱无损检测模型研究

• 作者: 张鹏 李江阔 陈绍慧
• 来源期刊: 食品工业科技
• 学科: 工学
• 关键词: 近红外光谱 无损检测 苹果 质地
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 所属期刊栏目: 分析检测
• 页码范围: 79-83,88
• 分类号: TS661.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.13386/j.issn1002-0306.2015.04.008

摘要

为了建立快速而无损检测苹果质地的新方法,应用近红外光谱仪研究不同建模方法和光谱预处理方法对苹果质地(脆度、硬度、回复性、凝聚性和咀嚼性)无损检测模型性能的影响.结果表明,波长范围400～2500nm内,采用改进偏最小二乘法、原始光谱结合反相多元离散校正处理所建苹果质地的校正模型最优,脆度、硬度、回复性、凝聚性和咀嚼性预测相关系数均大于0.8,而预测标准误差分别为7.6763N、6.5876N、0.0085、0.0175、1.2466N,残差之和均小于0.2.因此,通过近红外光谱对苹果质地进行快速而无损检测具有一定可行性,但模型精度有待进一步提高.