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寄生参数对SiC MOSFET栅源极电压影响的研究
寄生参数对SiC MOSFET栅源极电压影响的研究
作者:
巴腾飞
李艳
梁美
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
SiC MOSFET
寄生参数
开关模型
栅源极电压
摘要:
为分析寄生参数对开关过程中碳化硅(SiC) MOSFET栅源极电压的影响,首先建立了基于同步Buck变换器的SiC MOSFET开通和关断过程的数学模型;然后通过仿真和实验结果对比,验证了寄生参数带来的影响;最后分析了开关过程中各寄生参数对SiC MOSFET栅源极电压的影响.
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内容分析
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相关文献总数
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文献信息
篇名
寄生参数对SiC MOSFET栅源极电压影响的研究
来源期刊
电工技术学报
学科
工学
关键词
SiC MOSFET
寄生参数
开关模型
栅源极电压
年,卷(期)
2016,(13)
所属期刊栏目
电力电子与电力传动
研究方向
页码范围
64-73
页数
10页
分类号
TM85
字数
5279字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
梁美
北京交通大学电气工程学院
7
65
2.0
7.0
2
李艳
北京交通大学电气工程学院
53
250
9.0
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3
巴腾飞
北京交通大学电气工程学院
2
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二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
SiC MOSFET
寄生参数
开关模型
栅源极电压
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电工技术学报
主办单位:
中国电工技术学会
出版周期:
半月刊
ISSN:
1000-6753
CN:
11-2188/TM
开本:
大16开
出版地:
北京市西城区莲花池东路102号天莲大厦10层
邮发代号:
6-117
创刊时间:
1986
语种:
chi
出版文献量(篇)
8330
总下载数(次)
38
总被引数(次)
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