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摘要:
采用固相法制备了Ca1-xGdxCu3Ti4O12(x=0~0.09)陶瓷系列样品,利用X射线衍射、Raman光谱和正电子湮没等技术手段,对系列样品的微观结构、缺陷浓度进行测试和表征.结果表明,在整个掺杂范围内体系未发生结构相变,掺杂引起体系晶格膨胀、分子极化率增加;随Gd掺杂量x的增加,空位型缺陷增加.电性能测试结果表明,适量Gd掺杂(x=0.01)有利于改善体系的压敏性能,而过量Gd掺杂(x=0.07-0).09)会阻碍晶界势垒的形成,因而抑制体系的压敏性能.讨论了体系微观结构、空位型缺陷浓度及晶界势垒高度等因素对体系压敏性能的影响特征.
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文献信息
篇名 Gd掺杂对CaCu3Ti4O12陶瓷材料压敏性能的影响
来源期刊 电子元件与材料 学科 工学
关键词 Ca1-xGdxCu3Ti4O12陶瓷 微观结构 分子极化 缺陷浓度 压敏性能 势垒高度
年,卷(期) 2016,(10) 所属期刊栏目 研究与试制
研究方向 页码范围 20-24
页数 5页 分类号 TM28
字数 4973字 语种 中文
DOI 10.14106/j.cnki.1001-2028.2016.10.005
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈镇平 郑州轻工业学院物理与电子工程学院 55 139 6.0 8.0
2 刘鑫 郑州轻工业学院物理与电子工程学院 5 66 4.0 5.0
3 李涛 郑州轻工业学院物理与电子工程学院 31 68 4.0 6.0
4 谢新宇 郑州轻工业学院物理与电子工程学院 2 6 2.0 2.0
5 项会雯 郑州工业应用技术学院基础教程学部 1 2 1.0 1.0
6 陈书林 郑州轻工业学院物理与电子工程学院 1 2 1.0 1.0
7 刘永伟 郑州轻工业学院物理与电子工程学院 1 2 1.0 1.0
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Ca1-xGdxCu3Ti4O12陶瓷
微观结构
分子极化
缺陷浓度
压敏性能
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