铜含量变化对Cu(In,Ga) Se2薄膜微结构的影响

• 作者: 姚娘娟 孙雷 褚君浩 马建华 黄志明
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 学科: 工学
• 关键词: CIGS薄膜 铜含量 微结构 拉曼光谱
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 页码范围: 1-5,29
• 页数: 6页
• 分类号: TM914.4+2
• 字数: 1598字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11972/j.issn.1001-9014.2017.01.001

摘要

报道了不同的铜含量(Cu/(Ga+ In)=0.748 ～ 0.982)对Cu(In,Ga) Se2 (CIGS)薄膜微结构的影响.文章中的CIGS薄膜采用磁控溅射金属预置层后硒化的方法制备,其X射线衍射谱(XRD)中一系列黄铜矿结构CIGS (CH-CIGS)相的衍射峰确认了CH-CIGS相的存在.对CIGS薄膜拉曼光谱的分析表明,随着铜含量的上升,CIGS薄膜经历了CH-CIGS和有序缺陷化合物(OVC)混合相、CH-CIGS单相、CH-CIGS和CuxSe混合相三种状态.进一步的分析显示,CIGS薄膜拉曼峰的半高宽随铜含量变化,并在Cu/(Ga+ In) =0.9附近时达到最小值,这说明此时CIGS薄膜具有更好的结晶度和更少的无序性.此外还得到了CIGS薄膜拉曼峰半高宽与铜含量的经验关系公式.这些研究表明拉曼光谱能比XRD更加灵敏地探测CIGS薄膜的微结构,可望作为一种无损和快速测量方法,用于对CIGS薄膜晶相和铜含量的初步估计.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄志明	中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室	43	424	10.0	19.0
2	马建华	中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室	26	105	6.0	9.0
3	孙雷	中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室	4	14	2.0	3.0
7	姚娘娟	中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室	1	0	0.0	0.0