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摘要:
助焊剂蘸取机构是倒装芯片键合设备中的核心机构,其可靠性直接关系到键合后产品的质量.通过一系列实验找到了该机构漏胶的原因,对该机构进行了优化设计,解决了漏胶问题,提升了设备可靠性.
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视觉系统
运动控制
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压力约束模式下热超声倒装键合的试验
热超声倒装键合
压力约束模式
键合参数
键合强度
助焊剂的研究及发展趋势
助焊剂
分类
免清洗
活性物质
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 倒装芯片键合设备助焊剂蘸取机构漏胶问题分析与解决
来源期刊 电子工业专用设备 学科 工学
关键词 倒装芯片 键合设备 助焊剂蘸取机构
年,卷(期) 2017,(5) 所属期刊栏目 电子专用设备研究
研究方向 页码范围 46-51
页数 6页 分类号 TN605
字数 1989字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 郎平 6 8 2.0 2.0
3 高泽 3 0 0.0 0.0
5 沈会强 2 0 0.0 0.0
9 水立鹤 1 0 0.0 0.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
倒装芯片
键合设备
助焊剂蘸取机构
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
双月刊
1004-4507
62-1077/TN
大16开
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
1971
chi
出版文献量(篇)
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10002
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