基于65nm高速SRAM全定制设计

• 作者: 兰韬 杜明 裴国旭 贾柱良
• 来源期刊: 电脑与电信
• 学科: 工学
• 关键词: SRAM 全定制 版图 高速
• 年，卷（期）: 2017,（7）
• 所属期刊栏目: 集成电路设计
• 页码范围: 44-47
• 页数: 4页
• 分类号: TP333
• 字数: 1503字
• 语种: 中文

摘要

工艺进入65nm后,芯片集成度越来越高,器件的尺寸原来越小,加上走线宽度的减少,互连寄生效应越来越大,对SR AM的性能的影响也愈加显著.本文从全定制的设计流程出发,介绍了怎样实现SR AM不同功能模块之间的版图布局和IP的设计.在保证模块性能的同时,减少互连寄生对SRAM的影响,保证SRAM的高速运行.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	裴国旭		8	7	2.0	2.0
2	杜明		6	7	2.0	2.0
3	贾柱良		2	2	1.0	1.0
4	兰韬		1	2	1.0	1.0