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O、Se和Te掺杂对单层MoS2电子能带结构和光学性质的影响
O、Se和Te掺杂对单层MoS2电子能带结构和光学性质的影响
作者:
张耀予
林一歆
王鹤
肖岗
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
单层MoS2掺杂
第一性原理
能带结构
态密度
光催化潜力
摘要:
利用密度泛函理论第一性原理,计算了本征单层MoS2以及O、Se和Te掺杂单层MoS2的结构参数、能带结构、氧化还原电势、态密度、光吸收特性和光催化潜力.结果表明,本征和掺杂单层MoS2的晶胞参数、键长随原子半径的增大而增大,键角随原子半径的增大而减小.掺杂后禁带宽度变小,导电性增强.本征和掺杂的单层MoS2的导带底电位负于水解制氢反应的还原势,其价带顶电位正于水解制氢反应的氧化势,均具有光催化水解制氢的潜力.但是,本征和O掺杂,由于价带顶与导带底电位相应于水的氧化还原势和电子空穴需求量均存在不平衡,使其光解水性能不理想.然而,Se和Te掺杂可以平衡其还原与氧化能力,改善单层MoS2的光催化的性能,其中Se掺杂改善效果最为明显.同时,掺杂后的单层MoS2对可见光吸收效率增强.此研究有助于筛选合适的单层MoS2掺杂元素,提高单层MoS2材料的光催化水解制氢性能.
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篇名
O、Se和Te掺杂对单层MoS2电子能带结构和光学性质的影响
来源期刊
人工晶体学报
学科
化学
关键词
单层MoS2掺杂
第一性原理
能带结构
态密度
光催化潜力
年,卷(期)
2017,(9)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
1665-1671
页数
7页
分类号
O641
字数
3274字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
王鹤
华中科技大学能源与动力工程学院
10
55
5.0
7.0
2
张耀予
华中科技大学中欧清洁与可再生能源学院
3
5
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2.0
3
肖岗
华中科技大学能源与动力工程学院
4
5
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林一歆
华中科技大学中欧清洁与可再生能源学院
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研究来源
研究分支
研究去脉
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期刊影响力
人工晶体学报
主办单位:
中材人工晶体研究院有限公司
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-985X
CN:
11-2637/O7
开本:
16开
出版地:
北京朝阳区红松园1号中材人工晶体研究院,北京733信箱
邮发代号:
创刊时间:
1972
语种:
chi
出版文献量(篇)
7423
总下载数(次)
16
总被引数(次)
38029
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