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摘要:
为精确估算高频工作状态下SiC MOSFET的开关损耗及分析寄生参数对其开关特性的影响,提出了一种基于SiC MOSFET的精准分析模型.该模型考虑了寄生电感、SiC MOSFET非线性结电容及非线性跨导系数等参数.详细介绍了建立分析模型的原理,并给出了分析模型中各关键参数的提取方法.对比了基于分析模型计算得到的开关波形与实验测试结果,对比电压电流波形匹配度较高,证明了此分析模型的正确性.对比了分析模型的开关损耗与基于实验计算的开关损耗,对比结果显示两者存在偏差,而分析表明基于实验计算开关损耗的方法为不准确方法.最后基于所提出的分析模型分析了不同寄生参数对开关特性的影响,并为优化高频电路设计提出了建议.
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文献信息
篇名 用于精确预测SiC MOSFET开关特性的分析模型
来源期刊 电工技术学报 学科 工学
关键词 分析模型 碳化硅MOSFET 寄生参数 开关特性 开关损耗
年,卷(期) 2017,(1) 所属期刊栏目 电力电子与电力传动
研究方向 页码范围 148-158
页数 11页 分类号 TM133
字数 5243字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 郑琼林 北京交通大学电气工程学院 196 3061 32.0 50.0
2 梁美 北京交通大学电气工程学院 7 65 2.0 7.0
3 李艳 北京交通大学电气工程学院 53 250 9.0 14.0
4 巴腾飞 北京交通大学电气工程学院 2 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
分析模型
碳化硅MOSFET
寄生参数
开关特性
开关损耗
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电工技术学报
半月刊
1000-6753
11-2188/TM
大16开
北京市西城区莲花池东路102号天莲大厦10层
6-117
1986
chi
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8330
总下载数(次)
38
总被引数(次)
195555
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