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用于精确预测SiC MOSFET开关特性的分析模型
用于精确预测SiC MOSFET开关特性的分析模型
作者:
巴腾飞
李艳
梁美
郑琼林
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
分析模型
碳化硅MOSFET
寄生参数
开关特性
开关损耗
摘要:
为精确估算高频工作状态下SiC MOSFET的开关损耗及分析寄生参数对其开关特性的影响,提出了一种基于SiC MOSFET的精准分析模型.该模型考虑了寄生电感、SiC MOSFET非线性结电容及非线性跨导系数等参数.详细介绍了建立分析模型的原理,并给出了分析模型中各关键参数的提取方法.对比了基于分析模型计算得到的开关波形与实验测试结果,对比电压电流波形匹配度较高,证明了此分析模型的正确性.对比了分析模型的开关损耗与基于实验计算的开关损耗,对比结果显示两者存在偏差,而分析表明基于实验计算开关损耗的方法为不准确方法.最后基于所提出的分析模型分析了不同寄生参数对开关特性的影响,并为优化高频电路设计提出了建议.
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功率MOSFET
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密勒效应
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高速SiC MOSFET开关特性的测试方法
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文献信息
篇名
用于精确预测SiC MOSFET开关特性的分析模型
来源期刊
电工技术学报
学科
工学
关键词
分析模型
碳化硅MOSFET
寄生参数
开关特性
开关损耗
年,卷(期)
2017,(1)
所属期刊栏目
电力电子与电力传动
研究方向
页码范围
148-158
页数
11页
分类号
TM133
字数
5243字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
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姓名
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1
郑琼林
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2
梁美
北京交通大学电气工程学院
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北京交通大学电气工程学院
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分析模型
碳化硅MOSFET
寄生参数
开关特性
开关损耗
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电工技术学报
主办单位:
中国电工技术学会
出版周期:
半月刊
ISSN:
1000-6753
CN:
11-2188/TM
开本:
大16开
出版地:
北京市西城区莲花池东路102号天莲大厦10层
邮发代号:
6-117
创刊时间:
1986
语种:
chi
出版文献量(篇)
8330
总下载数(次)
38
总被引数(次)
195555
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