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集成电路自动测试方法的探讨与分析
集成电路自动测试方法的探讨与分析
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摘要：
首先介绍集成电路测试基本原理,并结合作者实际工作对集成电路自动测试方法进行分析说明,同时也提出了集成电路自动测试技术的发展趋势.
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节点文献
集成电路
测试方法
发展趋势
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期刊影响力
电子世界
主办单位：
中国电子学会
出版周期：
半月刊
ISSN：
1003-0522
CN：
11-2086/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市
邮发代号：
2-892
创刊时间：
1979
语种：
chi
出版文献量（篇）
36164
总下载数（次）
96
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