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一种VDMOS阈值电压和导通电阻的优化方法
一种VDMOS阈值电压和导通电阻的优化方法
作者:
陈惠明
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
集成电路制造
功率场效应晶体管
阈值电压
导通电阻
摘要:
功率场效应晶体管应用广泛,其阈值电压和导通电阻是其重要的参数.针对不同栅氧厚度的产品设计不同的多晶硅厚度实验来寻找最佳工艺条件,最终找到了阈值电压产品和导通电阻的最佳多晶硅厚度条件.
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篇名
一种VDMOS阈值电压和导通电阻的优化方法
来源期刊
集成电路应用
学科
工学
关键词
集成电路制造
功率场效应晶体管
阈值电压
导通电阻
年,卷(期)
2018,(6)
所属期刊栏目
工艺与制造
研究方向
页码范围
33-35
页数
3页
分类号
TN305|TN386.1
字数
1175字
语种
中文
DOI
10.19339/j.issn.1674-2583.2018.06.010
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
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陈惠明
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节点文献
集成电路制造
功率场效应晶体管
阈值电压
导通电阻
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
集成电路应用
主办单位:
上海贝岭股份有限公司
出版周期:
月刊
ISSN:
1674-2583
CN:
31-1325/TN
开本:
16开
出版地:
上海宜山路810号
邮发代号:
创刊时间:
1984
语种:
chi
出版文献量(篇)
4823
总下载数(次)
15
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