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摘要:
功率场效应晶体管应用广泛,其阈值电压和导通电阻是其重要的参数.针对不同栅氧厚度的产品设计不同的多晶硅厚度实验来寻找最佳工艺条件,最终找到了阈值电压产品和导通电阻的最佳多晶硅厚度条件.
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文献信息
篇名 一种VDMOS阈值电压和导通电阻的优化方法
来源期刊 集成电路应用 学科 工学
关键词 集成电路制造 功率场效应晶体管 阈值电压 导通电阻
年,卷(期) 2018,(6) 所属期刊栏目 工艺与制造
研究方向 页码范围 33-35
页数 3页 分类号 TN305|TN386.1
字数 1175字 语种 中文
DOI 10.19339/j.issn.1674-2583.2018.06.010
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集成电路制造
功率场效应晶体管
阈值电压
导通电阻
研究起点
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
集成电路应用
月刊
1674-2583
31-1325/TN
16开
上海宜山路810号
1984
chi
出版文献量(篇)
4823
总下载数(次)
15
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