集成电路动态闩锁效应检测方法研究

• 作者: 任翔 蔡依林 黄东巍
• 来源期刊: 电子元器件与信息技术
• 关键词: 集成电路 动态闩锁效应 恶劣条件 失效机理 静态条件
• 年，卷（期）: 2018,（8）
• 所属期刊栏目: 电子电力
• 页码范围: 81-84,92
• 页数: 5页
• 字数: 4482字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2096-4455.2018.08.026

摘要

本文首次提出集成电路动态闩锁检测方法,用于检测集成电路的真实闩锁防护能力等级,从而为军用集成电路产品闩锁检验提供依据.文中研究了FPGA和D/A转换器等典型集成电路的动态闩锁配置程序设计和试验程序设计等,对FPGA和D/A转换器进行了动态闩锁试验验证,并和静态条件下的试验结果进行对比.试验结果表明,动态条件下的闩锁效应相对静态有较明显的恶化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄东巍		10	7	1.0	2.0
2	蔡依林		4	11	2.0	3.0
3	任翔		11	13	2.0	3.0