融合试验数据的模拟集成电路可靠性预计修正方法研究

• 作者: 曹阳 王长鑫 高成 黄姣英
• 来源期刊: 集成电路应用
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 可靠性预计 加速退化试验 特征尺寸
• 年，卷（期）: 2019,（8）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: TN406
• 字数: 4977字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19339/j.issn.1674-2583.2019.08.001

摘要

以集成电路的特征尺寸和工艺水平为分类标准,将标准手册中的可靠性预计模型与实际的加速寿命试验数据进行结合,得到集成电路可靠性预计修正方法.通过此可靠性预计修正方法,能计算出集成电路的工艺修正系数数值,进而应用于可靠性预计模型之中,对集成电路可靠性预计方法进行修正.修正后的可靠性预计方法能够更加准确的对其可靠性进行预计,解决了现有标准手册模型不能完全准确体现出制造工艺发展的实际问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄姣英	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	41	128	6.0	10.0
2	高成	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	42	195	8.0	13.0
3	曹阳	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	20	83	2.0	9.0
4	王长鑫	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	3	1	1.0	1.0