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摘要:
目的 比较直流磁控溅射(DCMS)和高功率磁控溅射(HiPIMS)两种沉积技术制备的氮化铬(CrN)薄膜的结构和性能.方法 采用DCMS和HiPIMS沉积技术,在金属镍(Ni)基底上沉积CrN薄膜,采用X射线衍射(XRD)、扫描电镜(SEM)和显微硬度计等仪器,分析CrN薄膜的晶相结构、表面以及截面形貌、基底与薄膜复合硬度、摩擦性能等.结果 XRD晶体测量显示DCMS制备的CrN薄膜在(111)晶面择优生长,内应力大;而HiPIMS制备的CrN薄膜为(200)晶面择优生长,内应力小.SEM显示两种方法制备的CrN薄膜都呈柱状晶体结构生长,但HiPIMS沉积的CrN薄膜颗粒尺寸较小,柱状晶体结构和晶粒更致密.硬度测量得到HiPIMS制备的CrN薄膜显微硬度为855.9HV,而DCMS制备的CrN薄膜显微硬度为501.5HV.此外,DCMS制备的CrN薄膜平均摩擦系数为0.640,而HiPIMS制备的CrN薄膜摩擦系数为0.545,耐磨性也好.HiPIMS制备的CrN薄膜的腐蚀电流比DCMS制备的CrN薄膜低1个数量级.结论 HiPIMS沉积技术制备的CrN薄膜颗粒尺寸小,结构更致密,且缺陷少、硬度高、防腐蚀性好,薄膜各项指标都优于DCMS沉积的CrN薄膜.
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文献信息
篇名 直流和高功率磁控溅射制备氮化铬薄膜及其结构性能比较
来源期刊 表面技术 学科 工学
关键词 氮化铬 直流磁控溅射 高功率磁控溅射 结构 性能 耐磨性 耐腐蚀性
年,卷(期) 2019,(9) 所属期刊栏目 专题——高能冲击磁控溅射技术及工程应用
研究方向 页码范围 64-69,149
页数 7页 分类号 TG174.442
字数 4055字 语种 中文
DOI 10.16490/j.cnki.issn.1001-3660.2019.09.005
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈强 125 542 10.0 17.0
2 杨丽珍 44 190 8.0 12.0
3 李倩 3 0 0.0 0.0
4 王正铎 11 47 3.0 6.0
5 张海宝 5 1 1.0 1.0
6 刘忠伟 25 62 5.0 7.0
7 李花 2 0 0.0 0.0
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月刊
1001-3660
50-1083/TG
16开
重庆市2331信箱(重庆市九龙破区石桥铺渝州路33号)
78-31
1972
chi
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5547
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30
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34163
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