论SOC芯片的系统级测试

• 作者: 刘梅英
• 来源期刊: 通讯世界
• 学科: 工学
• 关键词: SOC芯片 系统级 量产测试 芯片测试
• 年，卷（期）: 2019,（10）
• 所属期刊栏目: 通信设计与应用
• 页码范围: 79-80
• 页数: 2页
• 分类号: TN492
• 字数: 2180字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-4222.2019.10.050

摘要

随着市场对电子产品应用的多样化、复杂化以及对性能的高要求,SOC芯片结构也越来越复杂,从而芯片的测试难度、效率、覆盖率也面临着巨大的挑战,本文将结合多年本领域的工作经验,针对芯片系统级测试的一些测试必要性、方法进行阐述.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘梅英		1	0	0.0	0.0