低能二次电子对微波输能窗击穿现象的影响

• 作者: 倪鑫荣 张雪 王滔 蔡成林
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 输能窗 速调管 低能电子 次级电子倍增效应 射频击穿
• 年，卷（期）: 2020,（10）
• 所属期刊栏目: 速调管放大器专题
• 页码范围: 49-54
• 页数: 6页
• 分类号: TM21
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB202032.200170

摘要

在微波输能窗次级电子倍增效应的模拟研究中,往往忽视低能电子的作用.基于Monte Carlo算法,模拟输能窗次级电子倍增规律,研究了经典的Vaughan模型、Vincent模型和Rice模型三种二次电子发射模型下次级电子倍增效应的差异,通过拟合倍增敏感曲线,获得了低能电子对切向和法向电场作用下输能窗次级电子倍增效应的影响.模拟结果表明,当切向电场作用时,三个发射模型得到的敏感曲线几乎重合,低能电子对敏感曲线的影响甚微,其中Rice模型的敏感区域最大.当法向电场作用时,由Vincent模型拟合得到的敏感区域远大于其他两个模型.