集成电路自适应测试技术综述

• 作者: 华铭
• 来源期刊: 电子世界
• 年，卷（期）: 2021,（11）
• 所属期刊栏目: 探索与观察
• 页码范围: 53-54
• 页数: 2页
• 语种: 中文

摘要

通过对测试向量重排序来提高测试效率,降低测试成本是集成电路测试领域的热点之一.本文综述了自适应测试技术,分析了每一种技术的优缺点,指出了该技术的发展需求和方向. 1 集成电路测试现状 随着我国电子产业市场的不断扩大,中国对于芯片的需求日益增加,逐渐成为全球最大的市场.在国内的相关产业发展中,集成电路的设计业始终是我国相关产业中最具发展活力的领域,并且增长也最为迅速.