电子与封装期刊
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543

电子与封装

Electronics and Packaging

影响因子 0.2463
本刊是目前国内唯一以电子封装为主的技术刊物。
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
出版周期:
月刊
邮编:
214035
地址:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
出版文献量(篇)
3006
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9543
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  • 作者: 李建辉 沐方清 董兆文
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2010年5期
    页码:  1-6
    摘要: 文章介绍了采用LTCC技术制作微波一体化封装,重点研究了X波段LTCC一体化封装的微带穿墙结构及其微波特性.同时对封装的散热结构进行了研究,根据不同的散热要求采用不同的散热结构.采用导热孔散...
  • 作者: 巫建华
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2010年5期
    页码:  7-10,29
    摘要: 伴随高密度电子组装技术的发展,BGA(Ball Grid Array)成为高密度、高性能、多功能及高I/O数封装的最佳选择.文章分析了影响BGA焊点可靠性的关键因素,特别提出了减少焊点空洞缺...
  • 作者: 顾晨
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2010年5期
    页码:  11-13
    摘要: 现有的直流开闭路测试无论在测试时问还是测试效率上已经遇到了很大的瓶颈,其测试时间将近1s,导致整体的测试时间很长,极大地影响了产能.文章介绍的动态开闭路测试以及VTT终端开闭路测试在测试流程...
  • 作者: 杜元勋 柴海峰 陶雪峰
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2010年5期
    页码:  14-16
    摘要: 虚拟仪器技术是测试领域的重要发展方向,在IC测试中也有广泛应用.传统IC测试技术主要基于传统自动化测试系统(ATE),随着IC设计和制造技术的进步,普通IC测试系统已不能满足研究和生产需要....
  • 作者: 李竞春 肖培磊 胡小琴
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2010年5期
    页码:  17-21
    摘要: 文中提出了一种应用于10位逐次逼近ADC的比较器.该比较器包括预放大器、中间放大器、输出驱动级及共模电平缓冲器.整体开环设计,采用多级级联的形式以满足增益和速度的要求;采用输出失调消除技术进...
  • 作者: 周昕杰 田海燕 赵力
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2010年5期
    页码:  22-24,29
    摘要: 随着EEPROM存储器件在太空和军事领域的广泛应用,国际上对EEPROM抗辐射性能的研究越来越多.为了达到提高存储器件抗辐射性能的目的,文章从版图设计的角度出发,首先分析了辐射对器件造成的影...
  • 作者: 张玲 罗静
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2010年5期
    页码:  25-29
    摘要: 采用0.18 μm及以下工艺设计高性能的VLSI芯片面临着诸多挑战,如特征尺寸缩小带来的互联线效应、信号完整性对芯片时序带来的影响、时序收敛因为多个设计变量的相互信赖而变得相当复杂,使百万门...
  • 作者: 王凤鸣 胡凯 黄诚
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2010年5期
    页码:  30-32
    摘要: Flash存储器是在20世纪80年代末逐渐发展起来的一种新型半导体非挥发性存储器,它具有结构简单、高密度,低成本、高可靠性和系统的电可擦除性等优点,是当今半导体存储器市场中发展最为迅速的一种...
  • 作者:
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2010年5期
    页码:  32,41-47
    摘要:
  • 作者: 胡乾坤 郭水旺
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2010年5期
    页码:  33-35
    摘要: 由于产品技术性能和结构要求等方面的提高,可靠性问题愈显突出,文章对电子元器件的可靠性进行了分析.寿命试验是可靠性试验中最重要最基本的项目之一,它是将产品放在特定的试验条件下考察其失效(损坏)...
  • 作者: 滕青
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2010年5期
    页码:  36-40
    摘要: 微电子行业产业链中,原材料的稳定供应是一个企业稳定和高效运作的重要环节,已成为企业日益关注的重点,但出现的问题是企业虽然已经建立了供应商管理的程序,同时也耗费了大量的资源,却没有达到企业所期...
  • 作者:
    刊名: 电子与封装
    发表期刊: 2010年5期
    页码:  48
    摘要:

电子与封装基本信息

刊名 电子与封装 主编 王虹麟
曾用名
主办单位 中国电子科技集团公司第五十八研究所  主管单位 中国电子科技集团公司
出版周期 月刊 语种
chi
ISSN 1681-1070 CN 32-1709/TN
邮编 214035 电子邮箱 ep.cetc58@163.com
电话 0510-85860386 网址 www.ep.org.cn
地址 江苏无锡市惠河路5号(208信箱)

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