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LSI制造与测试期刊
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AUEL—Ⅲ型自动椭偏仪
AUEL—Ⅲ型自动椭偏仪
作者:
罗晋生
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
自动椭偏仪
半导体集成电路
测量
摘要:
本文介绍了我们研制成功的实用化的EL-Ⅲ型自动椭偏仪,经专家鉴定和用户使用证明本仪器的实用化和实用化和商品化程度高,功能和技术指标与国外同类产品相当,达到国际先进水平。
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内容分析
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相关文献总数
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(/年)
文献信息
篇名
AUEL—Ⅲ型自动椭偏仪
来源期刊
LSI制造与测试
学科
工学
关键词
自动椭偏仪
半导体集成电路
测量
年,卷(期)
1996,(6)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
22-25
页数
4页
分类号
TN453.07
字数
语种
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
罗晋生
西安交通大学电信学院
28
194
7.0
13.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献
(0)
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(0)
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1996(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
自动椭偏仪
半导体集成电路
测量
研究起点
研究来源
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研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
LSI制造与测试
主办单位:
上海光学仪器研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
CN:
31-1459/TN
开本:
出版地:
上海江西中路450号
邮发代号:
创刊时间:
语种:
出版文献量(篇)
366
总下载数(次)
0
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