基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
阐述了热处理改善厚膜电阻器电性能的方法.通过实验确立了适当的热处理工艺参数,使厚膜电阻器的电阻温度系数和短时间过负载得到显著改善.对热处理前后的电阻膜层进行SEM形貌分析,探讨了热处理对其电性能影响的机理.
推荐文章
"三防"对片式厚膜电阻器阻值的影响探讨
片式厚膜电阻器
三防
热膨胀系数
片式膜电阻器的典型失效模式、机理及原因分析
片式膜电阻器
工艺流程
失效模式
失效机理
失效分析
片式膜电阻器过电应力失效模式及机理研究
片式膜电阻器
失效模式
失效机理
可靠性
LSCO厚膜电阻浆料的制备与电性能研究
厚膜
电阻浆料
方阻
电阻温度系数
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 热处理可改善厚膜电阻器的电性能
来源期刊 电子元件与材料 学科 工学
关键词 厚膜电阻器 电阻温度系数 短时间过负载
年,卷(期) 1999,(6) 所属期刊栏目 研究与试制
研究方向 页码范围 24-26
页数 3页 分类号 TM541
字数 2792字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-2028.1999.06.012
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王勇 天津大学电信工程学院 39 354 9.0 18.0
2 李涛 天津大学电信工程学院 37 348 10.0 18.0
3 李栋 天津大学电信工程学院 18 247 10.0 15.0
4 刘仲娥 天津大学电信工程学院 22 147 6.0 11.0
5 赵鹏 天津大学电信工程学院 42 293 11.0 15.0
6 普敏莉 天津大学材料科学与工程学院 13 193 7.0 13.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (2)
节点文献
引证文献  (1)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1980(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
1983(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
1999(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
2006(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
厚膜电阻器
电阻温度系数
短时间过负载
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元件与材料
月刊
1001-2028
51-1241/TN
大16开
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
62-36
1982
chi
出版文献量(篇)
5158
总下载数(次)
16
总被引数(次)
31758
论文1v1指导