IC真实缺陷图像的分色

• 作者: 任春丽 王俊平 郝跃 铁满霞
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: IC真实缺陷图像 分色 HSV彩色模型 质量评价
• 年，卷（期）: 2000,（5）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 668-672
• 页数: 5页
• 分类号: TP391.41|TN305
• 字数: 2472字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2000.05.032

摘要

在彩色IC缺陷图像的检测与识别系统中,通常采用分色技术来降低图像识别的难度.该文利用3种方法(HSV彩色模型、HLS彩色模型及明度信息)对IC缺陷图像进行了分色处理,并对其结果做了主客观评价,结果表明HSV模型在突出缺陷及与原始图像的相似性方面优于其他两种方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郝跃	西安电子科技大学微电子研究所	312	1866	17.0	25.0
2	任春丽	西安电子科技大学通信工程学院	16	17	2.0	4.0
3	王俊平	西安电子科技大学通信工程学院	31	284	10.0	16.0
4	铁满霞	西安电子科技大学通信工程学院	9	56	4.0	7.0