谈微电子机械系统器件的测试

• 作者: 秦玉霞
• 来源期刊: 电子与金系列工程信息
• 年，卷（期）: 2001,（10）
• 所属期刊栏目: 电子技术
• 页码范围: 55-57
• 页数: 3页
• 语种: 中文

摘要

在早期开发电子机械系统器件时,重点是放在器件设计上;而如今,它正在以不断增长的速率实现商品化,重点已经转移到提供耐用而价格低廉的产品上,而且,封装和测试已经成为区分不同产品的主要手段,实施这些手段的费用正在受到制造厂家的极大关注.从基本材料的性质一直到器件的最终验收,测试问题始终是器件和封装设计的基本要素.