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全兼容IEEE1149.1的MIPS CPU CORE可测性设计
可测性设计
软硬件协同设计
JTAG
IEEE 1149.1测试存取口与器件可测性同步的实现
测试存取口
可测性设计
标准
一种遵循IEEE 1149.1标准的可测试性设计结构
可测试性设计(DFT),IEEE 1149.1(JTAG)标准,测试
基于IEEE 1149.1标准的可重定向片上调试方法
可重定向
IEEE 1149.1
片上调试
JTAG
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 基于IEEE 1149.1标准的系统可测性设计
来源期刊 电子计算机 学科 工学
关键词 计算机系统 扫描通路 时序电路 可测性 设计 IEEE1149.1标准
年,卷(期) dzjsj_2002,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 15-19
页数 5页 分类号 TP306
字数 语种 中文
DOI
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 郭昕 3 0 0.0 0.0
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2002(0)
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研究主题发展历程
节点文献
计算机系统
扫描通路
时序电路
可测性
设计
IEEE1149.1标准
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子计算机
双月刊
CN 32-1582/TP
江苏无锡33信箱811号
出版文献量(篇)
703
总下载数(次)
2
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