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摘要:
首次报道了在Si衬底采用化学汽相沉积(CVD)技术生长出直径达φ50mm的大面积优质3C-SiC薄膜,表面光亮如镜.作者利用X-射线衍射、傅里叶红外变换吸收谱、X-射线光电子能谱和霍耳测量等对薄膜进行了表征.并在利用所长3C-SiC/Si外延片研制肖特基势垒二极管和GaN基薄膜上取得理想结果.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 φ50mm 3C-SiC薄膜的CVD生长及其特性研究
来源期刊 半导体光电 学科 工学
关键词 化学汽相沉积 Si衬底 φ50mm 优质3C-SiC薄膜
年,卷(期) 2002,(3) 所属期刊栏目 材料、结构及工艺
研究方向 页码范围 215-216
页数 2页 分类号 TN491|TN256
字数 832字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-5868.2002.03.019
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陶长远 南开大学物理学院 1 2 1.0 1.0
2 刘达清 南开大学物理学院 1 2 1.0 1.0
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2016(2)
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研究主题发展历程
节点文献
化学汽相沉积
Si衬底
φ50mm
优质3C-SiC薄膜
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体光电
双月刊
1001-5868
50-1092/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号44所内
1976
chi
出版文献量(篇)
4307
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22
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