基于数字测试系统的RF IC芯片测试扩展

• 作者: 赵龙 鹿梅
• 来源期刊: 集成电路应用
• 学科: 工学
• 关键词: RF IC卡 调制 解调 接口
• 年，卷（期）: 2002,（9）
• 所属期刊栏目: 封装测试
• 页码范围: 43-46
• 页数: 4页
• 分类号: TP3
• 字数: 3692字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-2583.2002.09.012

摘要

本文介绍如何扩展低端IC测试系统,使其具备13.56 MHz RF IC卡芯片批量测试能力,为一些IC设计或测试企业利用现有低端数字测试系统,降低RF IC卡测试成本提供一种可能的选择.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	鹿梅		1	1	1.0	1.0
2	赵龙		1	1	1.0	1.0