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摘要:
介绍了倒装芯片的发展过程,其中主要对制造技术、封装方法及倒装焊焊点的可靠性进行了评述。
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 倒装芯片及封装技术
来源期刊 集成电路通讯 学科 工学
关键词 倒装芯片 封装 倒装焊 可靠性 凸点 下填充
年,卷(期) jcdltx,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 23-29
页数 7页 分类号 TN405
字数 语种
DOI
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王明 10 7 1.0 2.0
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2003(0)
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研究主题发展历程
节点文献
倒装芯片
封装
倒装焊
可靠性
凸点
下填充
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
集成电路通讯
季刊
大16开
安徽省蚌埠市06信箱
1983
chi
出版文献量(篇)
868
总下载数(次)
16
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