基于难测故障冲突分析的非扫描可测性设计

• 作者: 向东 徐奕 顾珊
• 来源期刊: 清华大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 测试和检验 快速测试 冲突 包含赋值 非扫描可测性设计
• 年，卷（期）: 2003,（7）
• 所属期刊栏目: 微电子学
• 页码范围: 1001-1004
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 3062字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-0054.2003.07.038

摘要

时序电路的测试生成非常复杂.时序电路的可测性设计对于指导电路设计及测试生成是十分重要的.基于对在测试生成过程中的难测故障进行冲突分析,提出了一种新的评价电路可测性的测度conflict+,并在此基础上提出了一种两阶段的非扫描可测性设计方法.这种新的测度可以体现出时序ATPG中的绝大部分特征.运用该方法对一些实验电路进行可测性设计后,结果表明比近期的两种非扫描可测性设计方法nscan和lcdft在故障覆盖率、测试效率等方面都取得了更好的效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	向东	清华大学软件学院	119	1085	17.0	27.0
2	徐奕	清华大学微电子学研究所	3	1	1.0	1.0
3	顾珊	清华大学微电子学研究所	2	1	1.0	1.0