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最新的集成电路诊断技术-OptiFIB
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摘要：
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基于扫描的集成电路故障诊断技术
故障诊断
扫描诊断
全速诊断
IDDQ
IDDT
CMOS集成电路的ESD设计技术
互补金属氧化物半导体
集成电路
静电放电
技术
设计
集成电路技术的发展趋势研究
集成电路技术
CMOS器件
系统集成芯片
工业控制
集成电路封装技术可靠性探讨
集成电路
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电子工业专用设备
主办单位：
中国电子科技集团公司第四十五研究所
出版周期：
双月刊
ISSN：
1004-4507
CN：
62-1077/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
邮发代号：
创刊时间：
1971
语种：
chi
出版文献量（篇）
3731
总下载数（次）
31
总被引数（次）
10002
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