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测试小型存储器阵列的新方法
测试小型存储器阵列的新方法
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摘要：
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一种新型存储器测试辅助分析方法
存储器
失效存储单元
版图坐标文件
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存储器模块
测试系统
数字波形发生器
嵌入式存储器内建自测试方法
嵌入式存储器
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期刊影响力
电子设计应用
主办单位：
中国科技信息研究所
出版周期：
月刊
ISSN：
1672-139X
CN：
11-4916/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市
邮发代号：
82-839
创刊时间：
2002
语种：
chi
出版文献量（篇）
3145
总下载数（次）
1
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