大容量存储器集成电路的测试

• 作者: 杨富征
• 来源期刊: 电子工业专用设备
• 学科: 工学
• 关键词: 测试系统 存储器集成电路 块 页
• 年，卷（期）: 2005,（5）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 49-52
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 4006字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4507.2005.05.011

摘要

介绍了有关大容量存储器集成电路测试系统的软件原理和硬件构成,对大容量存储器集成电路的测试方法作了初步探讨,希望对实现实验室精确测试和生产中大批量芯片中测和成品测试有所帮助.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨富征		2	5	1.0	2.0