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摘要:
对长波光导MCT红外探测器进行了大电流长时间的冲击,对比了冲击前后探测器的电阻温度特性,并用该参数研究了器件的电学参数;测量了冲击前后探测器的黑体性能变化、响应光谱以及少子寿命.实验结果显示:短时间(42mA,70h)的电流冲击对探测器性能影响不大,探测器组分减小,截止波长变长;冲击时间长到(42mA,100h)一定程度后,探测器性能有不同程度的下降,组分变大,截止波长变短.这是因为电流产生的热效应加强了Hg扩散效应,从而使器件截止波长发生变化.
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关键词热度
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文献信息
篇名 电流冲击对长波光导MCT探测器的影响
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 电流冲击 MCT 光导探测器 响应光谱 少子寿命
年,卷(期) 2006,(z1) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 314-317
页数 4页 分类号 TN36
字数 2374字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2006.z1.077
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘大福 中国科学院上海技术物理研究所传感技术国家重点实验室 15 175 6.0 13.0
2 龚海梅 69 451 10.0 18.0
8 吴礼刚 中国科学院上海技术物理研究所传感技术国家重点实验室 5 20 3.0 4.0
9 徐国森 中国科学院上海技术物理研究所传感技术国家重点实验室 7 54 4.0 7.0
10 章连妹 中国科学院上海技术物理研究所传感技术国家重点实验室 1 0 0.0 0.0
11 靳秀芳 中国科学院上海技术物理研究所传感技术国家重点实验室 2 3 1.0 1.0
传播情况
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电流冲击
MCT
光导探测器
响应光谱
少子寿命
研究起点
研究来源
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期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
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