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摘要:
采用磁控溅射法在ITO导电玻璃上制备As-S玻璃薄膜,采用XRD、透可见-红外性能、扫描电镜、XPS等现代测试手段,研究薄膜的结晶形态、光学性质和成分.结果发现,利用磁控溅射方法得到了透过率较高、光学质量优良、没有明显的缺陷的As-S硫系玻璃薄膜,XPS光电子能谱结果显示薄膜As/S摩尔比为0.686,大于设计组成.
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文献信息
篇名 磁控溅射法制备As-S玻璃薄膜
来源期刊 硅酸盐通报 学科 工学
关键词 磁控溅射 As-S玻璃 薄膜
年,卷(期) 2007,(1) 所属期刊栏目 专题论文
研究方向 页码范围 84-86,105
页数 4页 分类号 TQ17
字数 2161字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-1625.2007.01.019
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 顾少轩 武汉理工大学材料科学与工程学院 52 253 9.0 13.0
2 张林 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
磁控溅射
As-S玻璃
薄膜
研究起点
研究来源
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研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
硅酸盐通报
月刊
1001-1625
11-5440/TQ
16开
北京市朝阳区东坝红松园1号中材人工晶体研究院733信箱
80-774
1980
chi
出版文献量(篇)
8598
总下载数(次)
10
总被引数(次)
58151
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