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摘要:
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倒装芯片拉脱试验分析与测试方法改进研究
倒装片
拉脱试验
测试方法
凸点芯片倒装焊接技术
倒装焊
C4
热超声
导电粘接剂
避免发生芯片裂纹的倒装片BGA技术概述
球栅阵列封装
裂纹
芯片
有限单元分析
倒装片
断裂力学
设计工艺
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 倒装芯片钉头Au凸点的制作与测试
来源期刊 混合微电子技术 学科 工学
关键词 多芯片组件(MCM) 倒装焊(FCB) 钉头Au凸点 接触电阻
年,卷(期) 2007,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 31-37
页数 7页 分类号 TN405
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 崔洪波 8 22 3.0 4.0
2 李孝轩 1 0 0.0 0.0
3 王听岳 1 0 0.0 0.0
传播情况
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引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (0)
节点文献
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同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
2007(0)
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研究主题发展历程
节点文献
多芯片组件(MCM)
倒装焊(FCB)
钉头Au凸点
接触电阻
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
混合微电子技术
季刊
安徽省合肥市6068信箱(合肥市绩溪路260号)
出版文献量(篇)
1458
总下载数(次)
46
总被引数(次)
0
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