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摘要:
分析了高频数字集成电路产生电磁发射的原因及其电磁发射的测量原理,简要说明了集成电路电磁骚扰的几种测试方法及其理论依据,介绍了法拉第笼法与磁场探头法的测试系统及其在产品设计方面的应用前景.
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文献信息
篇名 集成电路电磁骚扰测试方法
来源期刊 安全与电磁兼容 学科 工学
关键词 集成电路 电磁兼容 测试
年,卷(期) 2007,(1) 所属期刊栏目 测试与测量
研究方向 页码范围 12-14
页数 3页 分类号 TM93
字数 3021字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-9776.2007.01.002
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王敏良 9 3 1.0 1.0
2 孔德海 1 1 1.0 1.0
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2012(1)
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研究主题发展历程
节点文献
集成电路
电磁兼容
测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
安全与电磁兼容
双月刊
1005-9776
11-3452/TM
大16开
北京市亦庄经济技术开发区同济南路8号
82-295
1989
chi
出版文献量(篇)
2498
总下载数(次)
14
总被引数(次)
4963
论文1v1指导