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摘要:
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基于ARM的半导体分立器件测试主机系统总线
ARM
S3C44BO
测试主机系统总线
半导体分立器件测试系统
半导体器件寿命计算
半导体器件
寿命计算
失效率
阿伦纽斯模型
半导体器件的温度参数与质量等级
半导体器件
温度参数
质量等级
半导体器件辐射效应及抗辐射加固
双极型器件
MOS器件
辐射效应
辐射加固
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 ELMOS选择科利登FALCON系统测试汽车电子半导体器件
来源期刊 电子工业专用设备 学科
关键词
年,卷(期) 2007,(7) 所属期刊栏目 企业与产品介绍
研究方向 页码范围 60-61
页数 2页 分类号
字数 2248字 语种 中文
DOI
五维指标
传播情况
(/次)
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引文网络
引文网络
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2007(0)
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
双月刊
1004-4507
62-1077/TN
大16开
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
1971
chi
出版文献量(篇)
3731
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31
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