电子装备随机存储器通用测试算法

• 作者: 曲伟 范军
• 来源期刊: 指挥控制与仿真
• 学科: 工学
• 关键词: 电子设备测试 随机存储器 算法
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 所属期刊栏目: 工程实践
• 页码范围: 109-111,120
• 页数: 4页
• 分类号: TP333.8|TP206
• 字数: 3268字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-3819.2008.02.032

摘要

随机存储器在电子装备中广泛使用,对其进行有效测试是电子装备自测试与生产功能测试的主要内容.以走一测试算法为基础,设计了数据线、地址线与存储单元测试方法,可以有效检测各种类型的RAM焊接质量与器件质量,对于提高故障定位精度和减少产品的测试时间起重要作用,特剐是在电子装备的自测试、生产测试和维护测试中具有很好的应用前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曲伟	中国船舶重工集团公司江苏自动化研究所	15	54	4.0	7.0
2	范军	中国船舶重工集团公司江苏自动化研究所	2	4	1.0	2.0